A tester architecture suitable for MEMS calibration and testing / Ciganda L.; Bernardi P.; Sonza Reorda M.; Barbieri D.; Straiotto M.; Bonaria L.. - (2010). ((Intervento presentato al convegno ITC 2010, International Test Conference tenutosi a Austin (USA) nel Oct 31 – Nov 5, 2010.
Titolo: | A tester architecture suitable for MEMS calibration and testing |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2010 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/2374379
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