Archivio Istituzionale della RicercaOn Automatic Test Block Generation for Peripheral Testing in SoCs via Dynamic FSMs Extraction / Ravotto, Danilo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; Schillaci, M; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2008), pp. 71-76. (Intervento presentato al convegno Microprocessor Test and Verification, 2007. MTV '07 tenutosi a Austin nel 5-6 Dec. 2007) [10.1109/MTV.2007.14].
On Automatic Test Block Generation for Peripheral Testing in SoCs via Dynamic FSMs Extraction
RAVOTTO, DANILO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2008
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/1855292
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo