Behavioral-level test vector generation for system-on-chip designs / M., Lajolo; Rebaudengo, Maurizio; Sonza Reorda, Matteo; Violante, Massimo; Lavagno, Luciano. - 2000-:(2000), pp. 21-26. ( IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop, HLDVT 2000 usa 2000) [10.1109/HLDVT.2000.889554].
Behavioral-level test vector generation for system-on-chip designs
REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo;VIOLANTE, MASSIMO;LAVAGNO, Luciano
2000
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https://hdl.handle.net/11583/1667452
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