Dynamic electrothermal modeling of GaN HEMTs as a tool for technology assessment / Angelini, A., Bonani, F., Camarchia, V., Cappelluti, F., DONATI GUERRIERI, S., Ghione, G., Pirola, M.. - STAMPA. - (2006), pp. 59-62. (TARGET Days 2006 Monte Porzio Catone (Roma) 16-18 October).
Dynamic electrothermal modeling of GaN HEMTs as a tool for technology assessment
ANGELINI A;BONANI, Fabrizio;CAMARCHIA, VITTORIO;CAPPELLUTI, Federica;DONATI GUERRIERI, Simona;GHIONE, GIOVANNI;PIROLA, Marco
2006
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https://hdl.handle.net/11583/1429690
