Archivio Istituzionale della RicercaDynamic electrothermal modeling of GaN HEMTs as a tool for technology assessment / Angelini, A; Bonani, Fabrizio; Camarchia, Vittorio; Cappelluti, Federica; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni; Pirola, Marco. - STAMPA. - (2006), pp. 59-62. (Intervento presentato al convegno TARGET Days 2006 tenutosi a Monte Porzio Catone (Roma) nel 16-18 October).
Dynamic electrothermal modeling of GaN HEMTs as a tool for technology assessment
ANGELINI A;BONANI, Fabrizio;CAMARCHIA, VITTORIO;CAPPELLUTI, Federica;DONATI GUERRIERI, Simona;GHIONE, GIOVANNI;PIROLA, Marco
2006
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https://hdl.handle.net/11583/1429690