Automatic Test Programs Generation Driven by Internal Performance Counters / W., Lindsay; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2004), pp. 8-13. (Intervento presentato al convegno International Workshop on Microprocessor Test and Verification) [10.1109/MTV.2004.5].
Automatic Test Programs Generation Driven by Internal Performance Counters
SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2004
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https://hdl.handle.net/11583/1417965
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