Automatic Test Programs Generation Driven by Internal Performance Counters / W., L., SANCHEZ SANCHEZ, E.E., SONZA REORDA, M., Squillero, G.. - (2004), pp. 8-13. (International Workshop on Microprocessor Test and Verification ) [10.1109/MTV.2004.5].

Automatic Test Programs Generation Driven by Internal Performance Counters

SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2004

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1417965
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