Archivio Istituzionale della RicercaDRI, EMANUELE
DRI, EMANUELE
Dipartimento di Automatica e Informatica
061952
A More General Quantum Credit Risk Analysis Framework
2023 Dri, Emanuele; Aita, Antonello; Giusto, Edoardo; Ricossa, Davide; Corbelletto, Davide; Montrucchio, Bartolomeo; Ugoccioni, Roberto
Quantum Computing Reliability: Problems, Tools, and Potential Solutions
2023 Giusto, Edoardo; Dri, Emanuele; Montrucchio, Bartolomeo; Baheri, Betis; Guan, Qiang; Tiwari, Devesh; Rech, Paolo
QuFI: a Quantum Fault Injector to Measure the Reliability of Qubits and Quantum Circuits
2022 Oliveira, Daniel; Giusto, Edoardo; Dri, Emanuele; Casciola, Nadir; Baheri, Betis; Guan, Qiang; Montrucchio, Bartolomeo; Rech, Paolo
Towards An End-To-End Approach For Quantum Principal Component Analysis
In corso di stampa Dri, Emanuele; Aita, Antonello; Fioravanti, Tommaso; Franco, Giulia; Giusto, Edoardo; Ranieri, Giacomo; Corbelletto, Davide; Montrucchio, Bartolomeo
Towards practical Quantum Credit Risk Analysis
2022 Dri, Emanuele; Giusto, Edoardo; Montrucchio, Bartolomeo; Aita, Antonello
Understanding the Effect of Transpilation in the Reliability of Quantum Circuits
2023 Dilillo, Nicola; Giusto, Edoardo; Dri, Emanuele; Baheri, Betis; Guan, Qiang; Montrucchio, Bartolomeo; Rech, Paolo
Understanding the Impact of Cutting in Quantum Circuits Reliability to Transient Faults
2022 Casciola, Nadir; Giusto, Edoardo; Dri, Emanuele; Oliveira, Daniel; Rech, Paolo; Montrucchio, Bartolomeo
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| A More General Quantum Credit Risk Analysis Framework / Dri, Emanuele; Aita, Antonello; Giusto, Edoardo; Ricossa, Davide; Corbelletto, Davide; Montrucchio, Bartolomeo; Ugoccioni, Roberto. - In: ENTROPY. - ISSN 1099-4300. - 25:4(2023). [10.3390/e25040593] | 1-gen-2023 | Emanuele DriEdoardo GiustoBartolomeo Montrucchio + | entropy-25-00593.pdf |
| Quantum Computing Reliability: Problems, Tools, and Potential Solutions / Giusto, Edoardo; Dri, Emanuele; Montrucchio, Bartolomeo; Baheri, Betis; Guan, Qiang; Tiwari, Devesh; Rech, Paolo. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 2-3. (Intervento presentato al convegno 2023 53rd Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks tenutosi a Portugal (POR) nel 27-30 june 2023) [10.1109/DSN-S58398.2023.00015]. | 1-gen-2023 | Giusto, EdoardoDri, EmanueleMontrucchio, BartolomeoRech, Paolo + | - |
| QuFI: a Quantum Fault Injector to Measure the Reliability of Qubits and Quantum Circuits / Oliveira, Daniel; Giusto, Edoardo; Dri, Emanuele; Casciola, Nadir; Baheri, Betis; Guan, Qiang; Montrucchio, Bartolomeo; Rech, Paolo. - ELETTRONICO. - (2022), pp. 137-149. (Intervento presentato al convegno Dependable Systems and Networks nel 27-30 June 2022) [10.1109/DSN53405.2022.00025]. | 1-gen-2022 | Edoardo GiustoEmanuele DriBartolomeo Montrucchio + | 2203.07183.pdf; QuFI_a_Quantum_Fault_Injector_to_Measure_the_Reliability_of_Qubits_and_Quantum_Circuits.pdf |
| Towards An End-To-End Approach For Quantum Principal Component Analysis / Dri, Emanuele; Aita, Antonello; Fioravanti, Tommaso; Franco, Giulia; Giusto, Edoardo; Ranieri, Giacomo; Corbelletto, Davide; Montrucchio, Bartolomeo. - ELETTRONICO. - (In corso di stampa), pp. 4-9. (Intervento presentato al convegno 2023 IEEE International Conference on Quantum Computing and Engineering (QCE) tenutosi a Bellevue (USA) nel 17/09/2023). | In corso di stampa | Emanuele DriEdoardo GiustoBartolomeo Montrucchio + | - |
| Towards practical Quantum Credit Risk Analysis / Dri, Emanuele; Giusto, Edoardo; Montrucchio, Bartolomeo; Aita, Antonello. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SERIES. - ISSN 1742-6588. - ELETTRONICO. - 2416:(2022). (Intervento presentato al convegno National Physical Laboratory Joint Symposium on Quantum Technologies tenutosi a Teddington (UK) nel 12-14 September 2022) [10.1088/1742-6596/2416/1/012002]. | 1-gen-2022 | Emanuele DriEdoardo GiustoBartolomeo Montrucchio + | Dri_2022_J._Phys.__Conf._Ser._2416_012002.pdf |
| Understanding the Effect of Transpilation in the Reliability of Quantum Circuits / Dilillo, Nicola; Giusto, Edoardo; Dri, Emanuele; Baheri, Betis; Guan, Qiang; Montrucchio, Bartolomeo; Rech, Paolo. - ELETTRONICO. - (2023). (Intervento presentato al convegno IEEE Quantum Week 2023 tenutosi a Bellevue (USA) nel September 17, 2023 - September 22, 2023). | 1-gen-2023 | Dilillo,NicolaGiusto,EdoardoDri,EmanueleMontrucchio,BartolomeoRech,Paolo + | - |
| Understanding the Impact of Cutting in Quantum Circuits Reliability to Transient Faults / Casciola, Nadir; Giusto, Edoardo; Dri, Emanuele; Oliveira, Daniel; Rech, Paolo; Montrucchio, Bartolomeo. - ELETTRONICO. - (2022). (Intervento presentato al convegno The 28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design tenutosi a Torino (ITA) nel 12-14 settembre 2022) [10.1109/IOLTS56730.2022.9897308]. | 1-gen-2022 | Edoardo GiustoEmanuele DriPaolo RechBartolomeo Montrucchio + | Understanding_the_Impact_of_Cutting_in_Quantum_Circuits_Reliability_to_Transient_Faults.pdf |