DRI, EMANUELE

DRI, EMANUELE  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

061952  

Mostra records
Risultati 1 - 7 di 7 (tempo di esecuzione: 0.009 secondi).
Citazione Data di pubblicazione Autori File
Quantum Amplitude Loading for Rainbow Options Pricing / Cibrario, Francesca; Samimi Golan, Or; Ranieri, Giacomo; Dri, Emanuele; Ippoliti, Mattia; Cohen, Ron; Mattia, Christian; Montrucchio, Bartolomeo; Naveh, Amir; Corbelletto, Davide. - ELETTRONICO. - (In corso di stampa). (Intervento presentato al convegno 2024 IEEE International Conference on Quantum Computing and Engineering (QCE) tenutosi a Montreal (CA) nel 15-20 september 2024). In corso di stampa Emanuele DriBartolomeo MontrucchioDavide Corbelletto + -
Quantum Computing Reliability: Problems, Tools, and Potential Solutions / Giusto, Edoardo; Dri, Emanuele; Montrucchio, Bartolomeo; Baheri, Betis; Guan, Qiang; Tiwari, Devesh; Rech, Paolo. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 2-3. (Intervento presentato al convegno IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks – Supplemental Volume (DSN-S) tenutosi a Portugal (PTR) nel 27-30 june 2023) [10.1109/DSN-S58398.2023.00015]. 1-gen-2023 Giusto, EdoardoDri, EmanueleMontrucchio, BartolomeoRech, Paolo + Quantum_Computing_Reliability_Problems_Tools_and_Potential_Solutions.pdf
Towards An End-To-End Approach For Quantum Principal Component Analysis / Dri, Emanuele; Aita, Antonello; Fioravanti, Tommaso; Franco, Giulia; Giusto, Edoardo; Ranieri, Giacomo; Corbelletto, Davide; Montrucchio, Bartolomeo. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2023 IEEE International Conference on Quantum Computing and Engineering (QCE) tenutosi a Bellevue (USA) nel 17-22 September 2023) [10.1109/QCE57702.2023.10175]. 1-gen-2023 Emanuele DriEdoardo GiustoBartolomeo Montrucchio + QuPCA_proceedings.pdfTowards_An_End-To-End_Approach_For_Quantum_Principal_Component_Analysis.pdf
Understanding the Effect of Transpilation in the Reliability of Quantum Circuits / Dilillo, Nicola; Giusto, Edoardo; Dri, Emanuele; Baheri, Betis; Guan, Qiang; Montrucchio, Bartolomeo; Rech, Paolo. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 232-235. (Intervento presentato al convegno IEEE International Conference on Quantum Computing and Engineering (QCE) tenutosi a Bellevue, WA (USA) nel 17-22 September 2023) [10.1109/QCE57702.2023.10220]. 1-gen-2023 Dilillo, NicolaGiusto, EdoardoDri, EmanueleMontrucchio, BartolomeoRech, Paolo + Understanding_the_Effect_of_Transpilation_in_the_Reliability_of_Quantum_Circuits.pdfqvf_transpilation-1.pdf
QuFI: a Quantum Fault Injector to Measure the Reliability of Qubits and Quantum Circuits / Oliveira, Daniel; Giusto, Edoardo; Dri, Emanuele; Casciola, Nadir; Baheri, Betis; Guan, Qiang; Montrucchio, Bartolomeo; Rech, Paolo. - ELETTRONICO. - (2022), pp. 137-149. (Intervento presentato al convegno Dependable Systems and Networks nel 27-30 June 2022) [10.1109/DSN53405.2022.00025]. 1-gen-2022 Edoardo GiustoEmanuele DriBartolomeo Montrucchio + 2203.07183.pdfQuFI_a_Quantum_Fault_Injector_to_Measure_the_Reliability_of_Qubits_and_Quantum_Circuits.pdf
Towards practical Quantum Credit Risk Analysis / Dri, Emanuele; Giusto, Edoardo; Montrucchio, Bartolomeo; Aita, Antonello. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SERIES. - ISSN 1742-6588. - ELETTRONICO. - 2416:(2022). (Intervento presentato al convegno National Physical Laboratory Joint Symposium on Quantum Technologies tenutosi a Teddington (UK) nel 12-14 September 2022) [10.1088/1742-6596/2416/1/012002]. 1-gen-2022 Emanuele DriEdoardo GiustoBartolomeo Montrucchio + Dri_2022_J._Phys.__Conf._Ser._2416_012002.pdf
Understanding the Impact of Cutting in Quantum Circuits Reliability to Transient Faults / Casciola, Nadir; Giusto, Edoardo; Dri, Emanuele; Oliveira, Daniel; Rech, Paolo; Montrucchio, Bartolomeo. - ELETTRONICO. - (2022). (Intervento presentato al convegno The 28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design tenutosi a Torino (ITA) nel 12-14 settembre 2022) [10.1109/IOLTS56730.2022.9897308]. 1-gen-2022 Edoardo GiustoEmanuele DriPaolo RechBartolomeo Montrucchio + Understanding_the_Impact_of_Cutting_in_Quantum_Circuits_Reliability_to_Transient_Faults.pdf