Archivio Istituzionale della RicercaRIBOTTA, LUIGI
RIBOTTA, LUIGI
Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
049987
Atomic force microscopy metrology of non-spherical nanoparticles
2020 Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; Bartolo PICOTTO, Gian; Ribotta, Luigi
Metrologia di superfici funzionali per la caratterizzazione di celle fotovoltaiche
2019 Valentina, Furin; Gian Bartolo, Picotto; Ribotta, Luigi
Metrological characterization of nanoparticles by mAFM
2019 Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; Bartolo Picotto, Gian; Ribotta, Luigi
Tip-sample interaction in the AFM characterization of bio-plant nanostructures
2019 Carofiglio, Marco; Damiani, Manuel; Giordano, Marco; Nguyen, Linh; Bartolo Picotto, Gian; Ribotta, Luigi; Vallino, Marta
Tip-sample interactions in the AFM study of rod-shaped nanostructures
2019 bartolo picotto, Gian; Ribotta, Luigi; Vallino, Marta
3D characterization of printed structures by stylus- and optical- based measurements
2018 Bellotti, Roberto; Maras, Claire; Bartolo Picotto, Gian; Pometto, Marco; Ribotta, Luigi
AFM metrology of shape controlled TiO2 nanoparticles
2018 Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; Bartolo Picotto, Gian; Ribotta, Luigi
Morphology-driven parameters of engineered functional surfaces
2017 Bellotti, Roberto; Furin, Valentina; Marsura, Alessandro; Bartolo Picotto, Gian; Ribotta, Luigi
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Atomic force microscopy metrology of non-spherical nanoparticles / Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; Bartolo PICOTTO, Gian; Ribotta, Luigi. - (2020). ( 106° Congresso Nazionale Società Italiana di Fisica14-18 Settembre 2020). | 1-gen-2020 | Luigi RIBOTTA + | Abstract SIF 2020.docx |
| Metrologia di superfici funzionali per la caratterizzazione di celle fotovoltaiche / Valentina, Furin; Gian Bartolo, Picotto; Ribotta, Luigi. - (2019). ( A&T - Automation & Testing - LA FIERA DEDICATA A INDUSTRIA 4.0, MISURE E PROVE, ROBOTICA, TECNOLOGIE INNOVATIVE). | 1-gen-2019 | RIBOTTA, LUIGI + | 1218_Ribotta_INRIM_abstract esteso.pdf |
| Metrological characterization of nanoparticles by mAFM / Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; Bartolo Picotto, Gian; Ribotta, Luigi. - (2019). ( 6th Nano Today Conference16-20 Giugno 2019). | 1-gen-2019 | Luigi Ribotta + | - |
| Tip-sample interaction in the AFM characterization of bio-plant nanostructures / Carofiglio, Marco; Damiani, Manuel; Giordano, Marco; Nguyen, Linh; Bartolo Picotto, Gian; Ribotta, Luigi; Vallino, Marta. - (2019). ( 6th Nano Today Conference16-20 Giugno 2019). | 1-gen-2019 | Marco CarofiglioLuigi Ribotta + | - |
| Tip-sample interactions in the AFM study of rod-shaped nanostructures / bartolo picotto, Gian; Ribotta, Luigi; Vallino, Marta. - (2019). ( NanoScale 2019). | 1-gen-2019 | luigi ribotta + | - |
| 3D characterization of printed structures by stylus- and optical- based measurements / Bellotti, Roberto; Maras, Claire; Bartolo Picotto, Gian; Pometto, Marco; Ribotta, Luigi. - STAMPA. - (2018), pp. 493-494. ( euspen - european society for precision engineering and nanotechnology Venezia 2018). | 1-gen-2018 | Luigi Ribotta + | - |
| AFM metrology of shape controlled TiO2 nanoparticles / Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; Bartolo Picotto, Gian; Ribotta, Luigi. - (2018). ( NanoInnovation 2018 Conference&Exhibition). | 1-gen-2018 | Luigi Ribotta + | - |
| Morphology-driven parameters of engineered functional surfaces / Bellotti, Roberto; Furin, Valentina; Marsura, Alessandro; Bartolo Picotto, Gian; Ribotta, Luigi. - (2017). ( Macroscale - Recent Development in Traceable Dimensional Measurements17-19 October 2017). | 1-gen-2017 | Luigi Ribotta + | - |