Atomic force microscopy metrology of non-spherical nanoparticles / Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; Bartolo PICOTTO, Gian; Ribotta, Luigi. - (2020). (Intervento presentato al convegno 106° Congresso Nazionale Società Italiana di Fisica nel 14-18 Settembre 2020).

Atomic force microscopy metrology of non-spherical nanoparticles

Luigi RIBOTTA
2020

2020
978-88-7438-123-4
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