Atomic force microscopy metrology of non-spherical nanoparticles / Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; Bartolo PICOTTO, Gian; Ribotta, Luigi. - (2020). ((Intervento presentato al convegno 106° Congresso Nazionale Società Italiana di Fisica nel 14-18 Settembre 2020.
Titolo: | Atomic force microscopy metrology of non-spherical nanoparticles |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2020 |
ISBN: | 978-88-7438-123-4 |
Appare nelle tipologie: | 4.2 Abstract in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/2842982
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