Archivio Istituzionale della RicercaOLAVE, ELIAS JONHATAN
OLAVE, ELIAS JONHATAN
Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
036542
Fully Depleted MAPS in 110-nm CMOS Process With 100–300-μm Active Substrate
2020 Pancheri, Lucio; Giampaolo, Raffaele A.; Salvo, Andrea Di; Mattiazzo, Serena; Corradino, Thomas; Giubilato, Piero; Santoro, Romualdo; Caccia, Massimo; Margutti, Giovanni; Olave, Jonhatan Elias; Rolo, Manuel; Rivetti, Angelo
TOFFEE: a full custom amplifier-comparator chip for timing applications with silicon detectors
2017 Cenna, F.; Cartiglia, N.; Francesco, A. Di; Olave, ELIAS JONHATAN; Rolo, M. Da Rocha; Rivetti, Angelo; Silva, J. C.; Silva, R.; Varela, J.
Tests of SEU effects of circuits developed in 130 nm CMOS technology
2015 Calvo, D.; De Remigis, P.; Giovinazzo, Cecilia; Mazza, G.; Olave, ELIAS JONHATAN; Silvestrin, L.; Wheadon, R.
The ToPiX v4 prototype for the triggerless readout of the PANDA silicon pixel detector
2015 Mazza, G; Calvo, D.; De Remigis, P.; Mignone, M.; Olave, ELIAS JONHATAN; Rivetti, Angelo; Wheadon, R.; Zotti, L.
First study of SEU in ToPix4
2014 Calvo, D.; De Remigis, P.; Mazza, G.; Olave, ELIAS JONHATAN; Silvestrin, L.; Wheadon, R.; Zotti, L.
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Fully Depleted MAPS in 110-nm CMOS Process With 100–300-μm Active Substrate / Pancheri, Lucio; Giampaolo, Raffaele A.; Salvo, Andrea Di; Mattiazzo, Serena; Corradino, Thomas; Giubilato, Piero; Santoro, Romualdo; Caccia, Massimo; Margutti, Giovanni; Olave, Jonhatan Elias; Rolo, Manuel; Rivetti, Angelo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 67:6(2020), pp. 2393-2399. [10.1109/TED.2020.2985639] | 1-gen-2020 | Pancheri, LucioGiampaolo, Raffaele A.Salvo, Andrea DiSantoro, RomualdoOlave, Jonhatan Elias + | TED2985639.pdf; DiSalvo-Fully.pdf |
| TOFFEE: a full custom amplifier-comparator chip for timing applications with silicon detectors / Cenna, F.; Cartiglia, N.; Francesco, A. Di; Olave, ELIAS JONHATAN; Rolo, M. Da Rocha; Rivetti, Angelo; Silva, J. C.; Silva, R.; Varela, J.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 12:03(2017), pp. C03031-C03031. [10.1088/1748-0221/12/03/C03031] | 1-gen-2017 | OLAVE, ELIAS JONHATANRIVETTI, Angelo + | - |
| Tests of SEU effects of circuits developed in 130 nm CMOS technology / Calvo, D.; De Remigis, P.; Giovinazzo, Cecilia; Mazza, G.; Olave, ELIAS JONHATAN; Silvestrin, L.; Wheadon, R.. - In: LNL- ANNUAL REPORT. - ISSN 1828-8561. - ELETTRONICO. - LNL Annual Report 2015:INFN‑LNL Report 242(2015), pp. 115-116. | 1-gen-2015 | GIOVINAZZO, CECILIAOLAVE, ELIAS JONHATAN + | - |
| The ToPiX v4 prototype for the triggerless readout of the PANDA silicon pixel detector / Mazza, G; Calvo, D.; De Remigis, P.; Mignone, M.; Olave, ELIAS JONHATAN; Rivetti, Angelo; Wheadon, R.; Zotti, L.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 10:1(2015), pp. C01042-C01042. [10.1088/1748-0221/10/01/C01042] | 1-gen-2015 | OLAVE, ELIAS JONHATANRIVETTI, Angelo + | JOI2015.pdf |
| First study of SEU in ToPix4 / Calvo, D.; De Remigis, P.; Mazza, G.; Olave, ELIAS JONHATAN; Silvestrin, L.; Wheadon, R.; Zotti, L.. - In: LNL- ANNUAL REPORT. - ISSN 1828-8561. - ELETTRONICO. - LNL Annual Report 2014:107(2014), pp. 107-108. | 1-gen-2014 | OLAVE, ELIAS JONHATAN + | LNL-2014.pdf |