TIBALDI, ALBERTO

TIBALDI, ALBERTO  

Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni  

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Degradation of 1.3 μm Quantum Dot Laser Diodes for Silicon Photonics: Dependence on the Number of Dot-in-a-Well Layers / Zenari, Michele; Gioannini, Mariangela; Buffolo, Matteo; Tibaldi, Alberto; De Santi, Carlo; Norman, Justin; Shang, Chen; Dumont, Mario; Bowers, John E.; Herrick, Robert W.; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo. - In: IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS. - ISSN 1077-260X. - STAMPA. - 31:2(2025), pp. 1-8. [10.1109/jstqe.2024.3430050] 1-gen-2025 Gioannini, MariangelaTibaldi, Alberto + 2024Zenari_JSTQE - Degradation of 1.3 um Quantum Dot Laser Diodes.pdf
Impact of Coherent Mode Coupling on Noise Performance in Elliptical Aperture VCSELs for Datacom / Rimoldi, Cristina; Columbo, Lorenzo L.; Tibaldi, Alberto; Debernardi, Pierluigi; García, Sebastian Romero; Raabe, Christian; Gioannini, Mariangela. - In: IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS. - ISSN 1077-260X. - STAMPA. - 31:2(2025), pp. 1-13. [10.1109/jstqe.2024.3446312] 1-gen-2025 Rimoldi, CristinaColumbo, Lorenzo L.Tibaldi, AlbertoGioannini, Mariangela + 2024Rimoldi_JSTQE - Impact of Coherent Mode Coupling.pdf
AlGaAs Tunnel Junction (TJ)-VCSELs: A NEGF-Drift-Diffusion Approach / Gullino, Alberto; Torrelli, Valerio; D'Alessandro, Martino; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Goano, Michele; Debernardi, Pierluigi. - In: IEEE PHOTONICS JOURNAL. - ISSN 1943-0655. - ELETTRONICO. - 16:2(2024), pp. 1-9. [10.1109/jphot.2024.3360897] 1-gen-2024 Torrelli, ValerioD'Alessandro, MartinoTibaldi, AlbertoBertazzi, FrancescoGoano, Michele + 2024Gullino_PJ - AlGaAs Tunnel Junction (TJ)-VCSELs.pdf
Analysis of laterally-coupled-cavity VCSELs for ultra-high-frequency photon-photon resonance modulation / Ledentsov, Nikolay; Shchukin, Vitaly A.; Chorchos, Lukasz; Makarov, Oleg Y.; Kropp, Joerg-Reinhardt; Titkov, Ilya E.; Kalosha, Vladimir P.; Zerova, Vera; Lindemann, Markus; Gerhardt, Nils C.; D’Alessandro, Martino; Torrelli, Valerio; Debernardi, Pierluigi; Tibaldi, Alberto; Hofmann, Martin R.; Ledentsov, Nikolai N.. - ELETTRONICO. - 12904:(2024), pp. 1-10. (Intervento presentato al convegno SPIE Photonics West 2024 - Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers XXVIII tenutosi a San Francisco (USA) nel 30 Gennaio 2024 - 1 Febbraio 2024) [10.1117/12.3001177]. 1-gen-2024 D’Alessandro, MartinoTorrelli, ValerioTibaldi, Alberto + 2024Ledentsov_SPIE - Analysis of laterally-coupled-cavity VCSELs.pdf
Dynamical analysis of multimode VCSELs with elliptical oxide aperture / Rimoldi, Cristina; Columbo, Lorenzo L.; Tibaldi, Alberto; Debernardi, Pierluigi; Gioannini, Mariangela. - ELETTRONICO. - 12904:(2024), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno SPIE Photonics West OPTO 2024 tenutosi a San Francisco (USA) nel 27 gennaio 2024 - 1 febbraio 2024) [10.1117/12.3003714]. 1-gen-2024 Rimoldi, CristinaColumbo, Lorenzo L.Tibaldi, AlbertoDebernardi, PierluigiGioannini, Mariangela 129040L.pdf
Exploring Optimal Dark Current Design in HgCdTe Infrared Barrier Detectors: A TCAD and Semianalytic Investigation / Vallone, Marco; Alasio, Matteo; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Hanna, Stefan; Wegmann, Anne; Eich, Detlef; Figgemeier, Heinrich; Ghione, Giovanni; Goano, Michele. - In: IEEE PHOTONICS JOURNAL. - ISSN 1943-0655. - ELETTRONICO. - 16:1(2024), pp. 1-8. [10.1109/jphot.2023.3345544] 1-gen-2024 Vallone, MarcoAlasio, MatteoTibaldi, AlbertoBertazzi, FrancescoGhione, GiovanniGoano, Michele + 2024Vallone_PJ - Exploring Optimal Dark Current Design in HgCdTe.pdf
High operating temperature HgCdTe coupled cavity plasmonic infrared photodetectors / Vallone, M.; Goano, M.; Tibaldi, A.. - In: OPTICS EXPRESS. - ISSN 1094-4087. - ELETTRONICO. - 32:16(2024), pp. 27536-27551. [10.1364/oe.525151] 1-gen-2024 Vallone, M.Goano, M.Tibaldi, A. 2024Vallone_OEX - HOT HgCdTe coupled cavity plasmonic IR detectors.pdf
High-Power Emission via Large-Area VCSELs With Single High-Order Mode Operation / Torrelli, Valerio; Gullino, Alberto; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Goano, Michele; Debernardi, Pierluigi. - In: IEEE PHOTONICS JOURNAL. - ISSN 1943-0655. - ELETTRONICO. - 16:2(2024), pp. 1-7. [10.1109/jphot.2024.3360992] 1-gen-2024 Torrelli, ValerioTibaldi, AlbertoBertazzi, FrancescoGoano, Michele + 2024Torrelli_PJ - High-Power Emission via Large-Area VCSELs.pdf
Impact of Oxide Aperture Geometry on Noise Performance Degradation in 850 nm Multimode VCSELs for Datacom Applications / Rimoldi, Cristina; Columbo, Lorenzo L.; Tibaldi, Alberto; Debernardi, Pierluigi; García, Sebastian Romero; Raabe, Christian; Gioannini, Mariangela. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 24th International Conference on Transparent Optical Networks (ICTON) tenutosi a Bari (Italy) nel 14-18 July 2024) [10.1109/icton62926.2024.10647732]. 1-gen-2024 Rimoldi, CristinaColumbo, Lorenzo L.Tibaldi, AlbertoGioannini, Mariangela + 2024Rimoldi_ICTON - Impact of Oxide Aperture Geometry.Postprint.pdf2024Rimoldi_ICTON - Impact of Oxide Aperture Geometry.pdf
Relative Intensity Noise and Four Wave Mixing in Multimode Elliptical Oxide Aperture VCSELs / Rimoldi, C.; Novarese, Marco; Columbo, L. L.; Tibaldi, A.; Debernardi, Pierluigi; García, S. Romero; Raabe, C.; Gioannini, M.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno 29th International Semiconductor Laser Conference (ISLC) tenutosi a Orlando, FL (USA) nel 29 September 2024 - 02 October 2024) [10.1109/islc57752.2024.10717342]. 1-gen-2024 Rimoldi, C.Novarese, MarcoColumbo, L. L.Tibaldi, A.Gioannini, M. + 2024Rimoldi_ISLC.PostPrint - Relative intensity noise and four wave mixing.pdf2024Rimoldi_ISLC - Relative intensity noise and four wave mixing.pdf
Study of Electrically Excited Photon-Photon Resonances in Self-Injection-Locked Coupled-Cavity VCSELs / Lindemann, M.; Gerhardt, N. C.; Hofmann, M. R.; Ledentsov, N.; Shchukin, V. A.; Ledentsov, N. N.; Makarov, O. Y.; Zerova, V.; D'Alessandro, Martino; Tibaldi, A.; Turkiewicz, J. P.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno 29th International Semiconductor Laser Conference (ISLC) tenutosi a Orlando, FL (USA) nel 29 September 2024 - 02 October 2024) [10.1109/islc57752.2024.10717381]. 1-gen-2024 D'Alessandro, MartinoTibaldi, A. + 2024Lindemann_ISLC.PostPrint - Study of electrically excited PPR.pdf2024Lindemann_ISLC - Study of electrically excited PPR.pdf
TCAD-Assisted Progress on the Cisco Platform Toward Low-Bias 200 Gbit/s vertical-pin Ge- on-Si Waveguide Photodetectors / Alasio, Matteo; Vallone, Marco; Tibaldi, Alberto; Namnabat, Soha; Adams, Donald; Gothoskar, Prakash; Forghieri, Fabrizio; Masini, Gianlorenzo; Bertazzi, Francesco; Ghione, Giovanni; Gioannini, Mariangela; Goano, Michele. - In: JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY. - ISSN 0733-8724. - STAMPA. - 42:9(2024), pp. 3269-3276. [10.1109/jlt.2024.3352437] 1-gen-2024 Alasio, MatteoVallone, MarcoTibaldi, AlbertoBertazzi, FrancescoGhione, GiovanniGioannini, MariangelaGoano, Michele + 2024Alasio_JLT - TCAD-Assisted Progress on the Cisco Platform.pdf2024Alasio_JLT.Postprint.pdf
Transverse Coupled Cavity VCSELs: Bridging Ultrabroadband Dynamics to Optical Supermodes / D'Alessandro, Martino; Torrelli, Valerio; Bertazzi, Francesco; Goano, Michele; Ledentsov, Nikolay N.; Lindemann, Markus; Gioannini, Mariangela; Debernardi, Pierluigi; Tibaldi, Alberto. - In: IEEE PHOTONICS JOURNAL. - ISSN 1943-0655. - ELETTRONICO. - 16:2(2024), pp. 1-7. [10.1109/jphot.2024.3373171] 1-gen-2024 D'Alessandro, MartinoTorrelli, ValerioBertazzi, FrancescoGoano, MicheleGioannini, MariangelaTibaldi, Alberto + 2024DAlessandro_PJ - Transverse Coupled Cavity VCSELs.pdf
Analytical model of the Ultrabroadband Operation of Transverse-Coupled-Cavity VCSELs / Torrelli, Valerio; D’Alessandro, Martino; Miri, Lorenzo; Debernardi, Pierluigi; Bertazzi, Francesco; Goano, Michele; Gioannini, Mariangela; Tibaldi, Alberto. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 87-88. (Intervento presentato al convegno 23rd International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD 2023) tenutosi a Turin, Italy nel 18 - 21 September 2023) [10.1109/NUSOD59562.2023.10273476]. 1-gen-2023 Torrelli, ValerioD’Alessandro, MartinoMiri, LorenzoBertazzi, FrancescoGoano, MicheleGioannini, MariangelaTibaldi, Alberto + 2023Torrelli_NUSOD.1.PostPrint.pdf2023Torrelli_NUSOD.1 - Analytical model of the Ultrabroadband Operation.pdf
Different approximations for carriers lifetimes in HgCdTe quasi-neutral regions / Vallone, M.; Alasio, M. G. C.; Tibaldi, A.; Bertazzi, F.; Hanna, S.; Eich, D.; Wegmann, A.; Figgemeier, H.; Ghione, Giovanni.; Goano, M.. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 25-26. (Intervento presentato al convegno 23rd International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD 2023) tenutosi a Turin, Italy nel 18 - 21 September 2023) [10.1109/NUSOD59562.2023.10273472]. 1-gen-2023 Vallone, M.Alasio, M. G. C.Tibaldi, A.Bertazzi, F.Ghione, Giovanni.Goano, M. + 2023Vallone_NUSOD.PostPrint.pdf2023Vallone_NUSOD - Different approximations for carriers lifetimes.pdf
Extraction of Mobility from Quantum Transport Calculations of Type-II Superlattices / Glennon, John; Bertazzi, Francesco; Tibaldi, Alberto; Bellotti, Enrico. - In: PHYSICAL REVIEW APPLIED. - ISSN 2331-7019. - STAMPA. - 19:4(2023). [10.1103/PhysRevApplied.19.044045] 1-gen-2023 Bertazzi, FrancescoTibaldi, Alberto + 2023Glennon_PRAPP - Extraction of Mobility from Quantum Transport Calculations.pdf
III-N optoelectronic devices: understanding the physics of electro-optical degradation / Meneghini, Matteo; Roccato, Nicola; Piva, Francesco; De Santi, Carlo; Buffolo, Matteo; Haller, Camille; Carlin, Jean-François; Grandjean, Nicolas; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Goano, Michele; Verzellesi, Giovanni; Wernicke, Tim; Kneissl, Michael; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico. - ELETTRONICO. - 12441:(2023), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno SPIE Photonics West OPTO 2023 tenutosi a San Francisco, California nel 31 gennaio 2023 - 2 febbraio 2023) [10.1117/12.2649909]. 1-gen-2023 Tibaldi, AlbertoBertazzi, FrancescoGoano, Michele + 2023Meneghini_SPIE - III-N optoelectronic devices.pdf2023Meneghini_SPIE.PostPrint - III-N optoelectronic devices.pdf
Modeling of single-mode high-power VCSEL arrays / Torrelli, Valerio; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Goano, Michele; Debernardi, Pierluigi. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 93-94. (Intervento presentato al convegno 23rd International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD 2023) tenutosi a Turin, Italy nel 18 - 21 September 2023) [10.1109/NUSOD59562.2023.10273517]. 1-gen-2023 Torrelli, ValerioTibaldi, AlbertoBertazzi, FrancescoGoano, Michele + 2023Torrelli_NUSOD.2.PostPrint.pdf2023Torrelli_NUSOD.2 - Modeling of single-mode high-power VCSEL arrays.pdf
Modeling the effects of graded and abrupt mole fraction profiles in pBn and nBn HgCdTe barrier detectors / Alasio, Matteo; Vallone, Marco; Molino, Paolo; Errico, Luca; Hanna, Stefan; Figgemeier, Heinrich; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Ghione, Giovanni; Goano, Michele. - ELETTRONICO. - 12687:(2023), pp. 1-5. (Intervento presentato al convegno SPIE Optical Engineering + Applications tenutosi a San Diego (USA) nel 20 - 24 August 2023) [10.1117/12.2682206]. 1-gen-2023 Alasio, MatteoVallone, MarcoTibaldi, AlbertoBertazzi, FrancescoGhione, GiovanniGoano, Michele + 2023Alasio_SPIE - Modeling the effects of graded and abrupt mole fraction.pdf
Modeling the electronic transport in FinFET-like lateral Ge-on-Si pin waveguide photodetectors for ultra-wide bandwidth applications / Alasio, Matteo; Zhu, Mike; Fronteddu, Antonio; Cardinale, Alessandro; Ballarati, Andrea; Bellotti, Enrico; Ghione, Giovanni; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Vallone, Marco; Goano, Michele. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 107-108. (Intervento presentato al convegno 23rd International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD 2023) tenutosi a Turin, Italy nel 18 - 21 September 2023) [10.1109/NUSOD59562.2023.10273560]. 1-gen-2023 Alasio, MatteoFronteddu, AntonioGhione, GiovanniTibaldi, AlbertoBertazzi, FrancescoVallone, MarcoGoano, Michele + 2023Alasio_NUSOD.PostPrint.pdf2023Alasio_NUSOD - Modeling the electronic transport in FinFET-like.pdf