Optimizing Scan Test Economics Trade-Offs in Homogeneous 3D SICs via Cost Modeling / Iaria, G., Bernardi, P., Bertani, C., Garozzo, G., Tancorre, V.. - (2026), pp. 1-7. (2026 IEEE 32nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) ) [10.1109/iolts69666.2026.11633775].

Optimizing Scan Test Economics Trade-Offs in Homogeneous 3D SICs via Cost Modeling

Iaria, Giusy;Bernardi, Paolo;
2026

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/3014007
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo