Optimizing Scan Test Economics Trade-Offs in Homogeneous 3D SICs via Cost Modeling / Iaria, G., Bernardi, P., Bertani, C., Garozzo, G., Tancorre, V.. - (2026), pp. 1-7. (2026 IEEE 32nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) ) [10.1109/iolts69666.2026.11633775].
Optimizing Scan Test Economics Trade-Offs in Homogeneous 3D SICs via Cost Modeling
Iaria, Giusy;Bernardi, Paolo;
2026
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https://hdl.handle.net/11583/3014007
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