Automatic Data Redundancy in Safety-Critical Applications Using Trait-Based Code Transformation / Amel Solouki, Mohammadreza; De Sio, Corrado; Rebaudengo, Maurizio; Sini, Jacopo. - (In corso di stampa). (Intervento presentato al convegno 38th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems tenutosi a Barcelona (ESP) nel October 21st - 23th , 2025).

Automatic Data Redundancy in Safety-Critical Applications Using Trait-Based Code Transformation

Mohammadreza Amel Solouki;Corrado De Sio;Maurizio Rebaudengo;Jacopo Sini
In corso di stampa

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/3002723