Archivio Istituzionale della RicercaA survey of SiC power MOSFETs short-circuit robustness and failure mode analysis / Ceccarelli, L.; Reigosa, P. D.; Iannuzzo, F.; Blaabjerg, F.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 76-77:(2017), pp. 272-276. [10.1016/j.microrel.2017.06.093]
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https://hdl.handle.net/11583/3000741