Evaluating Reliability against SEE of Embedded Systems: A Comparison of RTOS and Bare-metal Approaches / DE SIO, Corrado; Azimi, Sarah; Sterpone, Luca. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - (In corso di stampa).

Evaluating Reliability against SEE of Embedded Systems: A Comparison of RTOS and Bare-metal Approaches

Corrado De Sio;Sarah Azimi;Luca Sterpone
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2981728