A 3D Simulation-based Approach to Analyze Heavy Ions-induced SET on Digital Circuits / Sterpone, L.; Luoni, F.; Azimi, S.; Du, B.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - (2020). [10.1109/TNS.2020.3006997]
Titolo: | A 3D Simulation-based Approach to Analyze Heavy Ions-induced SET on Digital Circuits | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2020 | |
Rivista: | ||
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2020.3006997 | |
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