A 3D Simulation-based Approach to Analyze Heavy Ions-induced SET on Digital Circuits / Sterpone, L.; Luoni, F.; Azimi, S.; Du, B.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - (2020). [10.1109/TNS.2020.3006997]

A 3D Simulation-based Approach to Analyze Heavy Ions-induced SET on Digital Circuits

L. Sterpone;S. Azimi;B. Du
2020

File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
FINAL_VERSION.pdf

accesso aperto

Descrizione: Articolo post-print
Tipologia: 2. Post-print / Author's Accepted Manuscript
Licenza: PUBBLICO - Tutti i diritti riservati
Dimensione 8.38 MB
Formato Adobe PDF
8.38 MB Adobe PDF Visualizza/Apri
09133159.pdf

non disponibili

Tipologia: 2a Post-print versione editoriale / Version of Record
Licenza: Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione 2.48 MB
Formato Adobe PDF
2.48 MB Adobe PDF   Visualizza/Apri   Richiedi una copia
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2838597