Archivio Istituzionale della RicercaA 3D Simulation-based Approach to Analyze Heavy Ions-induced SET on Digital Circuits / Sterpone, L.; Luoni, F.; Azimi, S.; Du, B.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - (2020). [10.1109/TNS.2020.3006997]
A 3D Simulation-based Approach to Analyze Heavy Ions-induced SET on Digital Circuits
L. Sterpone;S. Azimi;B. Du
2020
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https://hdl.handle.net/11583/2838597