Challenges of Reliability Assessment and Enhancement in Autonomous Systems / Jenihhin, Maksim; Reorda, Matteo Sonza; Balakrishnan, Aneesh; Alexandrescu, Dan. - STAMPA. - (2019), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) [10.1109/DFT.2019.8875379].
Titolo: | Challenges of Reliability Assessment and Enhancement in Autonomous Systems | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2019 | |
ISBN: | 978-1-7281-2260-1 | |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/2784868
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