Archivio Istituzionale della RicercaChallenges of Reliability Assessment and Enhancement in Autonomous Systems / Jenihhin, Maksim; Reorda, Matteo Sonza; Balakrishnan, Aneesh; Alexandrescu, Dan. - STAMPA. - (2019), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)) [10.1109/DFT.2019.8875379].
Challenges of Reliability Assessment and Enhancement in Autonomous Systems
Reorda, Matteo Sonza;
2019
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
postprint.pdf
accesso aperto
Tipologia:
2. Post-print / Author's Accepted Manuscript
Licenza:
PUBBLICO - Tutti i diritti riservati
Dimensione
5.18 MB
Formato
Adobe PDF
|
5.18 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
|
08875379.pdf
non disponibili
Tipologia:
2a Post-print versione editoriale / Version of Record
Licenza:
Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione
584.04 kB
Formato
Adobe PDF
|
584.04 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2784868