Archivio Istituzionale della RicercaChallenges of Reliability Assessment and Enhancement in Autonomous Systems / Jenihhin, Maksim; Reorda, Matteo Sonza; Balakrishnan, Aneesh; Alexandrescu, Dan. - STAMPA. - (2019), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)) [10.1109/DFT.2019.8875379].
Challenges of Reliability Assessment and Enhancement in Autonomous Systems
Reorda, Matteo Sonza;
2019
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https://hdl.handle.net/11583/2784868