Archivio Istituzionale della RicercaA dynamic greedy test scheduler for optimizing probe motion in in-circuit testers / Bonaria, L.; Raganato, M.; Sonza Reorda, M.; Squillero, G.. - STAMPA. - 2019-:(2019), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno 2019 IEEE European Test Symposium, ETS 2019 tenutosi a Baden Baden, Germany nel 2019) [10.1109/ETS.2019.8791519].
A dynamic greedy test scheduler for optimizing probe motion in in-circuit testers
Sonza Reorda M.;Squillero G.
2019
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https://hdl.handle.net/11583/2760879
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