PyXEL: An Integrated Environment for the Analysis of Fault Effects in SRAM-Based FPGA Routing / Bozzoli, Ludovica; De Sio, Corrado; Sterpone, Luca; Bernardeschi, Cinzia. - (2018), pp. 70-75. ((Intervento presentato al convegno 2018 International Symposium on Rapid System Prototyping (RSP).
Titolo: | PyXEL: An Integrated Environment for the Analysis of Fault Effects in SRAM-Based FPGA Routing |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2018 |
ISBN: | 978-1-5386-7557-1 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11583/2725045
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.