PyXEL: An Integrated Environment for the Analysis of Fault Effects in SRAM-Based FPGA Routing / Bozzoli, L., DE SIO, C., Sterpone, L., Bernardeschi, C.. - (2018), pp. 70-75. (2018 International Symposium on Rapid System Prototyping (RSP) ) [10.1109/RSP.2018.8632000].
PyXEL: An Integrated Environment for the Analysis of Fault Effects in SRAM-Based FPGA Routing
Bozzoli, Ludovica;DE SIO, CORRADO;Sterpone, Luca;
2018
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2725045
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
