On the analysis of radiation-induced Single Event Transients on SRAM-based FPGAs / Azimi, S.; Sterpone, L.; Du, B.; Boragno, L.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 88-90(2018), pp. 936-940.
Titolo: | On the analysis of radiation-induced Single Event Transients on SRAM-based FPGAs |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2018 |
Rivista: | |
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2018.07.135 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
---|---|---|---|---|
MicRel_2018.pdf | 1. Preprint / Submitted Version | Non Pubblico - Accesso privato/ristretto | Administrator Richiedi una copia |
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11583/2724870
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.