Archivio Istituzionale della RicercaOn the analysis of radiation-induced Single Event Transients on SRAM-based FPGAs / Azimi, S.; Sterpone, L.; Du, B.; Boragno, L.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 88-90:(2018), pp. 936-940. [10.1016/j.microrel.2018.07.135]
On the analysis of radiation-induced Single Event Transients on SRAM-based FPGAs
Azimi, S.;Sterpone, L.;Du, B.;
2018
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https://hdl.handle.net/11583/2724870
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