Archivio Istituzionale della RicercaA low-cost susceptibility analysis methodology to selectively harden logic circuits / Wali, I., Deveautour, B., Virazel, A., Bosio, A., Girard, P., SONZA REORDA, M.. - ELETTRONICO. - (2016), pp. 1-2. (2016 21th IEEE European Test Symposium (ETS) ) [10.1109/ETS.2016.7519296].
A low-cost susceptibility analysis methodology to selectively harden logic circuits
SONZA REORDA, Matteo
2016
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https://hdl.handle.net/11583/2650514
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