Physics-based analysis of FinFET RF variability including parasitics / Bughio, AHSIN MURTAZA; DONATI GUERRIERI, Simona; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni. - ELETTRONICO. - (2016), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno 48th Annual Meeting of the Associazione Gruppo Italiano di Elettronica (GE) tenutosi a Brescia, Italy nel June 22 to 24, 2016.

Physics-based analysis of FinFET RF variability including parasitics

BUGHIO, AHSIN MURTAZA;DONATI GUERRIERI, Simona;BONANI, FABRIZIO;GHIONE, GIOVANNI
2016

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Descrizione: Physics-based variability analysis via repeated AC simulations
Tipologia: 2. Post-print / Author's Accepted Manuscript
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