Physics-based analysis of FinFET RF variability including parasitics / Bughio, A.M., DONATI GUERRIERI, S., Bonani, F., Ghione, G.. - ELETTRONICO. - (2016), pp. 1-1. (48th Annual Meeting of the Associazione Gruppo Italiano di Elettronica (GE) Brescia, Italy June 22 to 24, 2016).

Physics-based analysis of FinFET RF variability including parasitics

BUGHIO, AHSIN MURTAZA;DONATI GUERRIERI, Simona;BONANI, FABRIZIO;GHIONE, GIOVANNI
2016

2016
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