Physics-based analysis of FinFET RF variability including parasitics / Bughio, AHSIN MURTAZA; DONATI GUERRIERI, Simona; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni. - ELETTRONICO. - (2016), pp. 1-1. (Intervento presentato al convegno 48th Annual Meeting of the Associazione Gruppo Italiano di Elettronica (GE) tenutosi a Brescia, Italy nel June 22 to 24, 2016).
Physics-based analysis of FinFET RF variability including parasitics
BUGHIO, AHSIN MURTAZA;DONATI GUERRIERI, Simona;BONANI, FABRIZIO;GHIONE, GIOVANNI
2016
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https://hdl.handle.net/11583/2645845
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