Archivio Istituzionale della RicercaPhysics-based SS and SSLS variability assessment of microwave devices through efficient sensitivity analysis / Bertazzi, Francesco; Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni. - ELETTRONICO. - (2012), pp. 1-3. (Intervento presentato al convegno 2012 Workshop on Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-wave Circuits tenutosi a Dublin, Ireland nel 3-4 September 2012) [10.1109/INMMIC.2012.6331920].
Physics-based SS and SSLS variability assessment of microwave devices through efficient sensitivity analysis
BERTAZZI, FRANCESCO;BONANI, Fabrizio;DONATI GUERRIERI, Simona;GHIONE, GIOVANNI
2012
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https://hdl.handle.net/11583/2503246
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