Exploiting symbolic techniques for partial scan flip flop selection / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - STAMPA. - (1998), pp. 670-679. (Intervento presentato al convegno DATE 1998 : IEEE Design Automation and Test Conference in Europe, 1998 tenutosi a Paris (France) nel Feb 23-26, 1998) [10.1109/DATE.1998.655930 ].
Exploiting symbolic techniques for partial scan flip flop selection
CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo;VIOLANTE, MASSIMO
1998
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https://hdl.handle.net/11583/2501317
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