Archivio Istituzionale della RicercaMaking the circular self-test path technique effective for real circuits / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1994), pp. 949-957. (Intervento presentato al convegno ITC 1994 : IEEE International Test Conference, 1994 tenutosi a Washington DC (USA) nel Oct 2-6, 1994) [10.1109/TEST.1994.528044 ].
Making the circular self-test path technique effective for real circuits
CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo
1994
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2501266
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo