Archivio Istituzionale della RicercaAn industrial experience in the built-in self test of embedded RAM / Camurati, P.E., Prinetto, P.E., SONZA REORDA, M., barbagallo, S., burri, A., medina, D.. - STAMPA. - (1994), pp. 306-311. (VTS 1994 : IEEE 12th VLSI Test Symposium Cherry Hill, NJ (USA) Apr 25-28, 1994) [10.1109/VTEST.1994.292296 ].
An industrial experience in the built-in self test of embedded RAM
CAMURATI, Paolo Enrico;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo;
1994
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https://hdl.handle.net/11583/2501235
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