Self-checking and Fault Tolerant approaches can help BIST fault coverage: a case study / Corno F.; Prinetto P.; Sonza Reorda M. - STAMPA. - (1996), pp. 610-610. ((Intervento presentato al convegno ED&TC 96: IEEE European Conference on Design and Test 1996 tenutosi a Paris (Francia) nel Mar 11-14, 1996 [10.1109/EDTC.1996.494374 ].
Titolo: | Self-checking and Fault Tolerant approaches can help BIST fault coverage: a case study | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 1996 | |
ISBN: | 0818674237 0818674245 | |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/2501142
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