Archivio Istituzionale della RicercaSelf-checking and Fault Tolerant approaches can help BIST fault coverage: a case study / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1996), pp. 610-610. (Intervento presentato al convegno ED&TC 96: IEEE European Conference on Design and Test 1996 tenutosi a Paris (Francia) nel Mar 11-14, 1996) [10.1109/EDTC.1996.494374 ].
Self-checking and Fault Tolerant approaches can help BIST fault coverage: a case study
CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo
1996
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https://hdl.handle.net/11583/2501142
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