Archivio Istituzionale della RicercaCompact and complete test set generation for multiple stuck-faultsProceedings of International Conference on Computer Aided Design / A., A., A., S., Lavagno, L., A. L., S.V.. - (1996), pp. 212-219. (Proceedings of International Conference on Computer Aided Design ) [10.1109/ICCAD.1996.569601].
Compact and complete test set generation for multiple stuck-faultsProceedings of International Conference on Computer Aided Design
LAVAGNO, Luciano;
1996
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https://hdl.handle.net/11583/2501038
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