Archivio Istituzionale della RicercaCompact and complete test set generation for multiple stuck-faultsProceedings of International Conference on Computer Aided Design / A., Agrawal; A., Saldanha; Lavagno, Luciano; A. L., Sangiovanni Vincentelli. - (1996), pp. 212-219. (Intervento presentato al convegno Proceedings of International Conference on Computer Aided Design) [10.1109/ICCAD.1996.569601].
Compact and complete test set generation for multiple stuck-faultsProceedings of International Conference on Computer Aided Design
LAVAGNO, Luciano;
1996
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https://hdl.handle.net/11583/2501038
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