Evaluating the fault tolerance capabilities of embedded systems via BDM / Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1999), pp. 452-457. (Intervento presentato al convegno VLSI Test Symposium, 1999. Proceedings. 17th IEEE tenutosi a Dana Point, CA nel 25-29 Apr 1999) [10.1109/VTEST.1999.766703].
Evaluating the fault tolerance capabilities of embedded systems via BDM
REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo
1999
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https://hdl.handle.net/11583/2500925
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