Archivio Istituzionale della RicercaExploiting high-level descriptions for circuits fault tolerance assessment / Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; J., Raik; R., Ubar. - (1997), pp. 212-216. (Intervento presentato al convegno Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1997. Proceedings., 1997 IEEE International Symposium on tenutosi a Paris, F nel 20-22 Oct 1997) [10.1109/DFTVS.1997.628327].
Exploiting high-level descriptions for circuits fault tolerance assessment
BENSO, Alfredo;PRINETTO, Paolo Ernesto;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo;
1997
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https://hdl.handle.net/11583/2500886
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