Archivio Istituzionale della RicercaFast sequential circuit test generation using high-level and gate-level techniques / Rudnick, E. M.; Vietti, R.; Ellis, A.; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1998). (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, 1998) [10.1109/DATE.1998.655915].
Fast sequential circuit test generation using high-level and gate-level techniques
CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo
1998
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https://hdl.handle.net/11583/2500508
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