Archivio Istituzionale della RicercaFast sequential circuit test generation using high-level and gate-level techniques / Rudnick, E.M., Vietti, R., Ellis, A., Corno, F., Prinetto, P.E., SONZA REORDA, M.. - (1998). (Design, Automation and Test in Europe, 1998 ) [10.1109/DATE.1998.655915].
Fast sequential circuit test generation using high-level and gate-level techniques
CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo
1998
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https://hdl.handle.net/11583/2500508
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