Archivio Istituzionale della RicercaAccurate and efficient analysis of single event transients in VLSI circuits / SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (2003). (Intervento presentato al convegno On-Line Testing Symposium, 2003. IOLTS 2003. 9th IEEE) [10.1109/OLT.2003.1214374].
Accurate and efficient analysis of single event transients in VLSI circuits
SONZA REORDA, Matteo;VIOLANTE, MASSIMO
2003
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https://hdl.handle.net/11583/2500043
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