Archivio Istituzionale della RicercaAn automatic test pattern generator for large sequential circuits based on Genetic Algorithms / Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1994). (Intervento presentato al convegno Test Conference, 1994. Proceedings., International tenutosi a Washington, DC, USA nel 2-6 Oct 1994) [10.1109/TEST.1994.527955].
An automatic test pattern generator for large sequential circuits based on Genetic Algorithms
PRINETTO, Paolo Ernesto;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo
1994
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https://hdl.handle.net/11583/2499848
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