Archivio Istituzionale della RicercaFormal Verification of Device State Chart Models / Corno, Fulvio; Sanaullah, Muhammad. - STAMPA. - Proceedings 2011 Seventh International Conference on Intelligent Environments:(2011), pp. 66-73. (Intervento presentato al convegno The 7th International Conference on Intelligent Environments tenutosi a Nottingham (UK) nel 25-28/07/2011) [10.1109/IE.2011.36].
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https://hdl.handle.net/11583/2402456
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