A new algorithm for diagnosis-oriented automatic test pattern generation / Camurati, P.E., Medina, D., Prinetto, P.E., SONZA REORDA, M.. - (1990), pp. 332-336. (EuroASIC 1990: IEEE EURO ASIC Paris (France) 29 May-1 June 1990) [10.1109/EASIC.1990.207964].

A new algorithm for diagnosis-oriented automatic test pattern generation

CAMURATI, Paolo Enrico;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo
1990

1990
0818620668
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2297050
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo