A diagnostic test pattern generation algorithm / Camurati, Paolo Enrico; Medina, D.; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1990), pp. 52-58. ((Intervento presentato al convegno ITC 1990: IEEE International Test Conference 1990 tenutosi a Washington DC (USA) nel 10-14 Sept. 1990 [10.1109/TEST.1990.114000].

A diagnostic test pattern generation algorithm

CAMURATI, Paolo Enrico;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo
1990

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