Archivio Istituzionale della RicercaA diagnostic test pattern generation algorithm / Camurati, Paolo Enrico; Medina, D.; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1990), pp. 52-58. (Intervento presentato al convegno ITC 1990: IEEE International Test Conference 1990 tenutosi a Washington DC (USA) nel 10-14 Sept. 1990) [10.1109/TEST.1990.114000].
A diagnostic test pattern generation algorithm
CAMURATI, Paolo Enrico;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo
1990
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https://hdl.handle.net/11583/2297046
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