A novel, rigorous approach to the dynamic, large-signal stability analysis of semiconductor devices and circuits under electro-thermal interaction / Cappelluti, Federica; F. L., Traversa; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni. - (2008), pp. 1-4. ((Intervento presentato al convegno International Electron Device Meeting 2008 tenutosi a San Francisco nel DECEMBER 2008 [10.1109/IEDM.2008.4796788].

A novel, rigorous approach to the dynamic, large-signal stability analysis of semiconductor devices and circuits under electro-thermal interaction

CAPPELLUTI, Federica;BONANI, Fabrizio;GHIONE, GIOVANNI
2008

9781424423774
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