Small and large signal trap-assisted GR noise modeling in semiconductor devices / DONATI GUERRIERI, Simona; Conte, G; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni. - Proc. of SPIE 5470:(2004), pp. 37-48. ((Intervento presentato al convegno Fluctuations and Noise 2004 - Noise in Devices and Circuits II tenutosi a Maspalomas, Spain nel May 26-28.

Small and large signal trap-assisted GR noise modeling in semiconductor devices

DONATI GUERRIERI, Simona;BONANI, Fabrizio;GHIONE, GIOVANNI
2004

9780819454003
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