Archivio Istituzionale della RicercaSensitivity evaluation of TMR-hardened circuits to multiple SEUs induced by alpha particles in commercial SRAM-based FPGAs / Manuzzato, A; Rech, P; Gerardin, S; Paccagnella, A; Sterpone, Luca; Violante, Massimo. - (2007), pp. 79-86. (Intervento presentato al convegno International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems).
Sensitivity evaluation of TMR-hardened circuits to multiple SEUs induced by alpha particles in commercial SRAM-based FPGAs
RECH P;STERPONE, Luca;VIOLANTE, MASSIMO
2007
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https://hdl.handle.net/11583/1667464
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