An RT-level Fault Model with High Gate Level Correlation / Corno, Fulvio; Cumani, G; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2000), pp. 3-3.
An RT-level Fault Model with High Gate Level Correlation
CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2000
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/1545300
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo