An RT-level Fault Model with High Gate Level Correlation / Corno, F., Cumani, G., SONZA REORDA, M., Squillero, G.. - (2000), pp. 3-3.
An RT-level Fault Model with High Gate Level Correlation
CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2000
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https://hdl.handle.net/11583/1545300
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