High Quality Test Pattern Generation for RT-level VHDL Descriptions / Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (1999).
High Quality Test Pattern Generation for RT-level VHDL Descriptions
CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
1999
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https://hdl.handle.net/11583/1545127
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