Automatic Test Generation for Verifying Microprocessors / Corno, Fulvio; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - In: IEEE POTENTIALS. - ISSN 0278-6648. - 24:(2005), pp. 34-37. [10.1109/MP.2005.1405800]
Automatic Test Generation for Verifying Microprocessors
CORNO, Fulvio;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2005
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https://hdl.handle.net/11583/1533362
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