Archivio Istituzionale della RicercaA BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques / D., Appello; A., Fudoli; V., Tancorre; Bernardi, Paolo; Corno, Fulvio; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 20:(2004), pp. 79-87. [10.1023/B:JETT.0000009315.57771.94]
A BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques
BERNARDI, PAOLO;CORNO, Fulvio;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo
2004
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https://hdl.handle.net/11583/1509272
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