Multiple errors produced by single upsets in FPGA configuration memory: a possible solution / SONZA REORDA, Matteo; Sterpone, Luca; Violante, Massimo. - (2005), pp. 136-141. (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium) [10.1109/ETS.2005.29].

Multiple errors produced by single upsets in FPGA configuration memory: a possible solution

SONZA REORDA, Matteo;STERPONE, Luca;VIOLANTE, MASSIMO
2005

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1501959
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