Multiple errors produced by single upsets in FPGA configuration memory: a possible solution / M. SONZA REORDA; STERPONE L.; M. VIOLANTE. - (2005), pp. 136-141. ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium [10.1109/ETS.2005.29].
Titolo: | Multiple errors produced by single upsets in FPGA configuration memory: a possible solution | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2005 | |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/1501959
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