Reducing Test Application Time through Interleaved Scan / Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2002), pp. 89-94. (Intervento presentato al convegno SBCCI2002: 15th IEEE Symposium on Integrated Circuits and Systems Design, Porto Alegre (Brasil)).
Reducing Test Application Time through Interleaved Scan
CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2002
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https://hdl.handle.net/11583/1501690
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