Evolutionary Test Program Induction for Microprocessor Design Verification / Corno, F., Cumani, G., SONZA REORDA, M., Squillero, G.. - (2002), pp. 368-373. (ATS2002: IEEE Asian Test Symposium ).
Evolutionary Test Program Induction for Microprocessor Design Verification
CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2002
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/1501682
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
