Evolutionary Test Program Induction for Microprocessor Design Verification / Corno, Fulvio; Cumani, G; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2002), pp. 368-373. (Intervento presentato al convegno ATS2002: IEEE Asian Test Symposium).

Evolutionary Test Program Induction for Microprocessor Design Verification

CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2002

2002
9780769518251
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