Evolutionary Test Program Induction for Microprocessor Design Verification / Corno, Fulvio; Cumani, G; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2002), pp. 368-373. (Intervento presentato al convegno ATS2002: IEEE Asian Test Symposium).
Evolutionary Test Program Induction for Microprocessor Design Verification
CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2002
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https://hdl.handle.net/11583/1501682
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