An Evolutionary Algorithm for Reducing Integrated-Circuit Test Application Time / Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2002), pp. 608-612. (Intervento presentato al convegno SAC2002: 17th ACM Symposium on Applied Computing) [10.1145/508791.508908].
An Evolutionary Algorithm for Reducing Integrated-Circuit Test Application Time
CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, MATTEO;SQUILLERO, Giovanni
2002
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https://hdl.handle.net/11583/1501664
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