A P1500 compliant BIST-based approach to embedded RAM diagnosis / D., A., Corno, F., M., G., Rebaudengo, M., SONZA REORDA, M.. - (2001), pp. 97-102. (ATS, IEEE Asian Test Symposium Kyoto, Giappone 19-21 novembre 2001).
A P1500 compliant BIST-based approach to embedded RAM diagnosis
CORNO, Fulvio;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo
2001
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https://hdl.handle.net/11583/1498976
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