A P1500 compliant BIST-based approach to embedded RAM diagnosis / D., Appello; Corno, Fulvio; M., Giovinetto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2001), pp. 97-102. ((Intervento presentato al convegno ATS, IEEE Asian Test Symposium tenutosi a Kyoto, Giappone nel 19-21 novembre 2001.

A P1500 compliant BIST-based approach to embedded RAM diagnosis

CORNO, Fulvio;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo
2001

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