A BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques / D., Appello; A., Fudoli; V., Tancorre; Corno, Fulvio; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2002), pp. 112-116. ((Intervento presentato al convegno IOLTW2002: IEEE International On-line Testing Workshop tenutosi a Isola di Bendor, Francia nel 8-10 luglio 2002.

A BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques

CORNO, Fulvio;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo
2002

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1498955
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