A BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques / D., Appello; A., Fudoli; V., Tancorre; Corno, Fulvio; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2002), pp. 112-116. ((Intervento presentato al convegno IOLTW2002: IEEE International On-line Testing Workshop tenutosi a Isola di Bendor, Francia nel 8-10 luglio 2002.
Titolo: | A BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2002 | |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/1498955
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